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產(chǎn)品分類
Product Category中圖儀器光學(xué)3D表面輪廓儀廠家(SuperView W1系列),以0.1nm核心分辨率為突破,結(jié)合白光干涉技術(shù)與智能化功能,為您提供“高精度、全適配、高效率”的表面形貌測量解決方案。
SuperViewW系列超光滑硅晶片表面光學(xué)輪廓儀以高精度、高效率、高適配的核心優(yōu)勢,為精密制造、科研檢測等領(lǐng)域提供一站式測量解決方案。如需獲取產(chǎn)品演示視頻、行業(yè)定制化方案或免費(fèi)樣品測試,歡迎隨時聯(lián)系。
中圖儀器SuperViewW0.1nm級分辨率光學(xué)3D表面輪廓儀形貌重復(fù)性低至0.1nm,粗糙度RMS重復(fù)性0.005nm,臺階測量準(zhǔn)確度僅0.3%,搭配氣浮隔振底座與0.1nm分辨率環(huán)境噪聲評價,復(fù)雜車間環(huán)境也能穩(wěn)定輸出精準(zhǔn)數(shù)據(jù)。
中圖儀器白光干涉3D表面輪廓儀廣泛應(yīng)用于精密制造、電子半導(dǎo)體、汽車零部件、新材料、醫(yī)療器械等領(lǐng)域,對各種產(chǎn)品、部件和材料表面的粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測量和分析。
中圖儀器光學(xué)表面輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測量單個精細(xì)器件的過程用時短,確保了高款率檢測。
SuperViewW光學(xué)輪廓三維形貌儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測量單個精細(xì)器件的過程用時短,確保了高款率檢測。
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