傳統(tǒng)掃描電鏡操作流程復雜？售后等待漫長？低電壓下分辨率斷崖式下跌？測量數(shù)據(jù)畸變導致科研誤判？中圖儀器CEM3000國內(nèi)高分辨率臺式掃描電鏡體積小巧，無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng)，以優(yōu)于4nm的實測分辨率，直擊B端用戶測量痛點，為科研、質檢、研發(fā)提供“精準、可靠、高效"的微觀分析解決方案！

一、解決痛點

二、有哪些產(chǎn)品特點？

1.核心分辨率

SE模式下優(yōu)于4nm、BSE模式下優(yōu)于8nm（@20kV），最高20萬倍放大倍數(shù)，清晰捕捉60nm銀線、晶粒結構等納米級特征；

2.技術支撐

鏡筒內(nèi)加減速+復合透鏡設計，電子束“加速-減速"精準調控，低電壓（250V-5kV）下仍保持高分辨成像；

3.校準體系

正交畸變校準（旋轉補償精度90±0.2°）+場曲校準，全視野無模糊、無拉伸畸變，測量基準更精準；

4.成像增強

高襯度成像系統(tǒng)+信號剝離算法，微弱信號精準捕捉，復雜樣品微觀細節(jié)還原度拉滿。

三、為B端用戶創(chuàng)造了哪些實際價值？

1.科研端：數(shù)據(jù)精準可追溯，滿足論文發(fā)表、項目驗收的嚴謹性要求，加速研發(fā)突破；

2.質檢端：納米級缺陷（如焊接微裂紋、涂層針孔）無漏檢，降低產(chǎn)品不合格率與市場風險；

3.成本端：省去敏感樣品噴金、復雜預處理步驟，縮短檢測周期，降低耗材與人工成本；

4.效率端：批量樣品檢測時，高分辨+自動化操作雙重加持，檢測吞吐量提升30%以上。

四、廠家實力

1.資質合規(guī)：全系列產(chǎn)品通過ISO體系認證，可提供完整檢測報告、資質文件，滿足科研機構、制造企業(yè)合規(guī)采購需求；

2.自有工廠：標準化生產(chǎn)基地，核心技術自主研發(fā)，廠家直供無中間商，報價透明無隱形費用；

3.售后保障：12個月整機質保，2小時售后響應，72小時上門維修；質保期內(nèi)免費校準，終身技術支持與成本價配件供應；

4.定制能力：可根據(jù)行業(yè)需求，定制顆粒度統(tǒng)計、孔隙率測量、三維粗糙度重建等自動化分析功能，適配細分場景。

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（注：產(chǎn)品參數(shù)與配置方案可能因技術升級調整，具體以實際溝通為準。）